Máy phân tích độ mịn HN-CF100 CKiC

LIÊN HỆ 0339229221

Model: HN-CF100

Hãng: CKiC (Changsha Kaiyuan Instruments)

Xuất xứ: Trung Quốc

GỌI NGAY LIÊN HỆ QUA ZALO LIÊN HỆ QUA EMAIL

Hotline: 0339229221

Giao hàng toàn quốc Thanh toán khi nhận hàng

MÔ TẢ SẢN PHẨM

Mô tả
Đánh giá (0)

Máy phân tích độ mịn HN-CF100 CKiC

Tính năng của máy phân tích độ mịn CKiC:

So với phương pháp sàng lọc truyền thống, HN-CF100 là lựa chọn nhanh hơn, đơn giản hơn, dễ dàng hơn và chính xác hơn.

– Phân tán ướt có thể loại bỏ sự can thiệp của bong bóng.

– Áp suất phân tán có thể điều chỉnh để tránh làm vỡ mẫu.

– Từ khi nạp mẫu đến kết quả phân tích, chỉ mất 20 giây. Thao tác một lần nhấn, dễ dàng và đơn giản.

– Phun trực tiếp vào hệ thống phân tán đảm bảo mẫu sẽ không bị vón cục nữa.

– Không có cửa sổ đo để ngăn bụi bẩn bám trên thấu kính ảnh hưởng đến kết quả thử nghiệm.

– Hệ thống lấy nét tự động để đảm bảo máy phân tích luôn ở trạng thái tối ưu.

– HN-CF100 CKiC được trang bị chức năng SOP và chế độ vận hành thủ công.

– Được trang bị chức năng phát hiện áp suất âm của bộ thu bụi để không xảy ra rò rỉ bụi.

– Phần mềm thông minh với giao diện được tổ chức rõ ràng, thao tác đơn giản. Tính toán dựa trên lý thuyết Mie sẽ đưa ra kết quả đáng tin cậy và chính xác.

Nguyên lý của máy phân tích độ mịn:

– Máy phân tích độ mịn HN-CF100 CKiC tận dụng sự tán xạ ánh sáng của các hạt và kích thước hạt càng nhỏ thì phạm vi tán xạ càng rộng. Sau đó, máy dò đa nguyên tố sẽ được sử dụng để ghi lại ánh sáng tán xạ và bằng cách áp dụng mô-đun quang học cụ thể, hệ thống có thể tính toán phần trăm hạt có kích thước khác nhau và hiển thị bố cục hạt ở dạng hai hoặc ba chiều.

Thông số kỹ thuật của máy phân tích độ mịn HN-CF100:

Model: HN-CF100

Hãng: CKiC (Changsha Kaiyuan Instruments)

Xuất xứ: Trung Quốc

– Phù hợp với tiêu chuẩn: GB/T 19077.1-2016, ISO 13320:2009,.

– Nguyên tắc: Tán xạ Mie và nhiễu xạ Fraunhofer.

– Phạm vi phân tích: 0,5-500μm.

– Độ chính xác: RSD＞1% (vật liệu được chứng nhận D50).

– Hệ thống quang học: Laser trạng thái rắn (650nm).

– Thời gian phân tích: 20 giây từ khi phun khí nén, nạp mẫu, phân tích đến khi làm sạch.

– Khối lượng mẫu: Khoảng 10mg-4g, tùy thuộc vào kích thước hạt mẫu℃.

– Môi trường phân phối: Phân phối cưỡng bức bằng cách làm sạch khí nén℃.

– Thu thập mẫu: Hút áp suất âm bằng máy hút bụi.

– Môi trường: 25±10℃, độ ẩm tương đối≤85% (không ngưng tụ).

– Công suất HN-CF100 CKiC: 220V/50Hz, công suất＜2000W.

– Kích thước: 900×800×500mm.

– Trọng lượng: 60Kg.

Giới thiệu:

– Máy phân tích độ mịn HN-CF100 CKiC phù hợp với nhiều phòng thí nghiệm và tập đoàn công nghiệp: Bột phi kim loại: than, xi măng, đá vôi, tro bay, canxi cacbonat, silicon dioxide, magiê oxit, v.v. Bột kim loại: nhôm, sắt, kẽm, kim loại đất hiếm, hợp kim, v.v. Các loại khác: vật liệu mài mòn, silicon carbide, bột mì, vật liệu pin lithium, thành phần sứ, vật liệu phủ, v.v.